Nahaufnahme der Untersuchung einer Probe von Mikrochip-Transistor mit Sondenstation unter dem Mikroskop im Labor.EIN Halbleiter auf einem Siliziumwafer

Nahaufnahme der Untersuchung einer Probe von Mikrochip-Transistor mit Sondenstation unter dem Mikroskop im Labor.EIN Halbleiter auf einem Siliziumwafer Stockfoto
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Anatoly Morozov / Alamy Stock Foto

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2B39AYR

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Model - nein | Eigentum - neinBenötige ich eine Freigabe?

Format:

4700 x 3133 px | 39,8 x 26,5 cm | 15,7 x 10,4 inches | 300dpi

Aufnahmedatum:

12. Dezember 2019

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